塞规测量存在哪些不足之处？

    塞规是常用的小尺寸公差检测工具，塞规检测虽然是常用方法，但缺陷也有很多：
    （1）塞规制作成本高
    根据同行业的数据分析，只有塞规的公差大于0.003mm时，塞规才能保证95%以上的产品合格率；当小于0.0015mm时，只能保证33%的合格率；当小于0.0025mm且大于0.0015mm时，只能保证67%的合格率。一般的塞规设计公差范围很小，通常是±0.001mm，或是0～0.002mm，不足0.003mm，若想保障产品合格率，就必须对塞规重新加工制作，这样就会增加塞规的制作成本，检测效果的性价比降低。
    （2）塞规使用成本高
    通端的下差和磨损极限的差值即为磨损量，磨损量越小，塞规的使用寿命越短。
    （3）塞规计量困难
    由于设计公差范围太小，约在0.014mm左右，加工难度大，无法读取准确的数值，计量检测无法保证，验收合格率低。
    （4）塞规加工困难
    因为塞规吃掉了产品要求公差的一部分公差，导致产品加工时压缩到产品图要求尺寸的中差，因而对加工的要求也相应提高了。